四探针测试仪|SZT-2|

四探针测试仪（SZT-2）主要说明：

1．主机采用*电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。

2．屏幕采用液晶显示（一代为只有数码管显示）。

3．匹配电脑接口及软件，让操作简便明了化（可直接连接电脑，电脑进行自动运算根据输入厚度，自动比照并修正系数，使被测结果更精确，数据可储藏或删除，利于使用方保存记录）。

4．二代的测试架采用自动传感装置，接近被测物体时实行自动减速，避免了被测物体的损耗和探头的磨损（于国内市场上任何一款同类产品的测试架，老一代为手动）。

5．本仪器电压档为自动调整,电流档为半自动.不清楚被测物体阻值时,可按菜单先选择100MA电流档进行自动搜索（电流可由高至低自动搜索,不能由低向高搜索）,当选择好电流档后,电压会自动进行调整.

6. 本仪器测试电阻、电阻率、方块电阻时，标准系数为机器自带自调，无需另外手工调整，省去了原仪器的诸多麻烦。

7．测试探头为钨针，市场上多为高速钢针。

8．每次测量均有内置计算机自动进行温度补偿及电压电流矫正。

9．整机测量标准不确定度：≤ 2%（国内其它厂家误差为≤ 5% ）

技术参数：
1． 测量范围：
方块电阻：10的-4次方 ~10的5次方Ω/□
电阻率：10的-3次方~10的5 次方Ω-cm
电阻：10的-4次方 ~10的5 次方Ω
2． 可测半导体材料尺寸
直径：5mm-130cm
长度：≤400mm
3． 测量方法：
轴向、断面均可
4． 显示方式：41/2,数显,极性、过载自动显示，小数点、单位自动显示。
5． 恒流源：
（1） 电流输出：直流电流0~100 mA连续可调。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 误差：±0.5%读数±1个字
6.四探针测试探头
（1） 探针间距:1mm
（2） 材料:碳化钨.探针机械游移率:±1.0%
7.电源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W

8.外型尺寸:260×160×215mm

四探针测试仪|SZT-2|